金華手持式XRF分析儀光譜

原材料包括鋁、鈷、鉻、銅、不銹鋼、鈦、鎢等。但是，如果要使用其中任何一種材料，則其必須首先以純元素或合金粉末的形式存在。這種“粉末”可使用XRF（X射線熒光）合金分析儀進(jìn)行檢測，保證將其轉(zhuǎn)變成重要成分之前，該粉末達(dá)到所需的質(zhì)量規(guī)格。或者，固定式火花直讀光譜儀（OES），如日立生產(chǎn)的OE750和OE720，可用于測定再熔爐中的粉末。這有助于分析碳、磷、硫、硼、氮（如果粉末是由鎳、鈷或鋼組成），而XRF分析儀無法做到這一點(diǎn)。WDXRF和燃燒分析儀是一種替代方案，但它們的價格可能比OE750貴三倍。合金分析儀幫助你洞察合金品質(zhì)，降低檢測成本，提高產(chǎn)品品質(zhì)，管控系統(tǒng)安全。金華手持式XRF分析儀光譜

便攜式分析儀已被證明特別受歡迎，占2017年P(guān)MI市場的比較大份額，其中石油和天然氣行業(yè)的份額比較大。從重量為1.5公斤的XRF或LIBS(激光誘導(dǎo)擊穿光譜)手持分析儀，到重量為15公斤的便攜式直讀分析儀，它們允許現(xiàn)場檢驗(yàn)相關(guān)組件的化學(xué)成分。以前PMI分析儀是實(shí)驗(yàn)室里的固定裝置，需要預(yù)先準(zhǔn)備樣品，而便攜式分析儀允許用戶在現(xiàn)場檢查關(guān)鍵的工藝部件。通過檢驗(yàn)板、管道、法蘭、焊接和閥門，操作者可以更好地確保他們在使用期限內(nèi)現(xiàn)場檢驗(yàn)保持安全和合規(guī)性。寧德X-MET8000分析儀技術(shù)日立分析儀器提供熒光、激光和直讀OES技術(shù)，介入金屬檢測的應(yīng)用。

金屬元素分析儀的檢測材料可以多種多樣，適合很多金屬制造業(yè)、機(jī)械制造業(yè)、鑄造企業(yè)對材料的檢測分析。因此金屬元素分析儀可以用于對鋼鐵、銅鋁及其合金等各種玄色和有色金屬、非金屬材料中的硅、錳、磷、鎳、鉻、銅等多種元素的含量分析，金屬元素分析儀就可以更好涉足冶金、機(jī)械、化工等行業(yè)，在爐前、制作過程、成品、來料化驗(yàn)等方面臨各種材料多元素分析的需要。金屬分析儀是企業(yè)理化分析中常用的器具，由于它使用方便，測試快速，因而用于現(xiàn)場分析，可以對金屬或非金屬材料中的金屬元素百分含量進(jìn)行定量檢測試。現(xiàn)已大批應(yīng)用于冶金、鑄造、機(jī)械、化工、環(huán)保、質(zhì)檢等各個行業(yè)，可以方便、快捷的進(jìn)行原料驗(yàn)收、爐前分析、成品檢驗(yàn)等各個環(huán)節(jié)的產(chǎn)品測試。

在過去十年中，我們已經(jīng)看到數(shù)據(jù)成為企業(yè)的關(guān)鍵資源，金屬行業(yè)也不例外。雖然對過程控制和優(yōu)化進(jìn)行了投資，但該行業(yè)在采用新的數(shù)字技術(shù)方面多年來一直落后于銀行和媒體等行業(yè)。然而，隨著分析、移動解決方案和自動化領(lǐng)域的創(chuàng)新，金屬行業(yè)采用數(shù)字技術(shù)的步伐正在加快，這帶來了巨大的收益。對我們來說，金屬分析儀的快速、簡潔和便利使工作人員能夠在一個工作日內(nèi)進(jìn)行數(shù)千次讀數(shù)，這意味著我們還需要做出改變才能適應(yīng)如此快的速度。日立分析儀器擁有40年的便攜式XRF解決方案的知識和經(jīng)驗(yàn)。

手持式X射線熒光（HHXRF）分析儀通常用于土壤和沉積物中有害金屬的快速測定。它們的使用通常在環(huán)境保護(hù)機(jī)構(gòu)的指導(dǎo)方針中規(guī)定，例如美國EPA方法6200，因?yàn)樗鼈兲峁┝丝焖佟F(xiàn)場篩選重金屬的方式，極大地減少了對實(shí)驗(yàn)室分析和相關(guān)成本的需要。日立高科技的X-MET8000 Expert GEO手持式X射線熒光分析儀已被設(shè)計(jì)來滿足現(xiàn)在和將來環(huán)境篩選的挑戰(zhàn)。它的大面積硅漂移探測器（SDD）和性的BooSTTM技術(shù)提供比其他HHXRF高達(dá) 10倍的靈敏度，提供滿足規(guī)則所需的低檢測限以及的精度，日復(fù)一日的為您提供了可以信賴的結(jié)果。即使在炎熱的天氣下，不需要重新標(biāo)定或檢測器冷卻，持續(xù)工作。合金分析儀可以準(zhǔn)確分析金屬的化學(xué)成分，可自定義顯示界面。廈門X-MET8000熒光分析儀銷售

金屬分析儀具有平衡和緊湊的結(jié)構(gòu)。金華手持式XRF分析儀光譜

校準(zhǔn)樣品被制備成壓顆粒。與樣品杯中的制備相比，這允許在沒有塑料薄膜的情況下進(jìn)行測量。這有助于對具有較低 X 射線能量的元素（如 Mg）具有完全靈敏度。如果應(yīng)用了用于校正樣品杯薄膜存在的類型標(biāo)準(zhǔn)，則校準(zhǔn)也可用于松散粉末的制備。出于篩選目的，可以按原樣分析鉆芯和巖石，并且使用 X-MET分析儀的平均功能可為您提供真正具有代表性的結(jié)果。小石塊和樣品杯應(yīng)使用便攜式支架（包含在 X-MET8000分析儀采礦套件中）或可選的臺式支架進(jìn)行測量，以保護(hù)用戶免受散射輻射。金華手持式XRF分析儀光譜

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